WAFER TEST

ウエハテスト事業

ウエハテスト / レーザートリミング保有設備＜テスト環境＞

※ここに記載されるテスト環境は2025年1月時点の内容です。本内容は参考情報としてご利用ください。
最新のテスト環境や仕様等につきましては、弊社までお問合わせください。

Mixed SoCテスタの主なテスト環境

メーカー	機種名	主な仕様
ADVANTEST	T6575	125MHz I/O＝512pin SCPG, AD/DA, IDDQ等オプション有
	T6577	125MHz I/O＝1024pin　I/O＝512pin可能 SCPG, ALPG, AFM, AD/DA オプション有
	T2000 LS	26slot TH, I/O＝1024pin DPS500mA, PMU32, 250MDM 52slot TH, I/O＝1024pin～1280pin DPS500mA, PMU32, 800MDM
	T7721	1125MHz I/O＝256pin　PHDC＝256pin MDC HDC SQPG MTX 有り
	V93000	9slot TH PS1600B=64MB/200Mbps/128ch/TMU:2pins WSMX=HS:4units , HR:4units DPS128=HV:64ch/HC:64ch

アナログテスタの主なテスト環境

メーカー	機種名	主な仕様
ShibaSoku	WL22	Perpin＝64ch TM＝2ch, HV V/I 有 CBIT＝72bit～288bit AS/AVM 有り
	WL25	Perpin＝64ch μFunc＝16pin～32pin TIME＝4ch CBIT＝72bit～144bit, HV V/I 有
	WL25V	VPerpin＝64ch～128ch Digital Module＝16pin～32pin CBIT＝144bit～288bit TM＝8ch, HV V/I HV1800V 有
SPANDNIX	SX3010	ONVI_R3M＝全64pin 30V/300mA QTMR＝A/B×4ch Cbit＝256ch DHVI 有り

プローバー

メーカー	機種名	主な仕様
東京エレクトロン	P-8系	(P8, P8XL) [100mm～200mm] 温度帯室温, 高温チャック, 高温AC付高低温 -40℃～150℃
東京エレクトロン	P-12系	(P-12) [200mm～300mm] エアークール仕様
東京精密	UF200・2000系	(UF200/A/SA/S/R) [125mm～200mm] (UF2000) [125mm～200mm] 高温チャック, 高温AC付高低温 -40℃～150℃
東京精密	UF3000系	(UF3000/EX/EXe) [200mm～300mm] 高温チャック, 高温AC付高低温 -40℃～150℃ 高低温 -55℃～200℃

レーザートリミング

メーカー	機種名	主な仕様
ESI	esi9275	波長＝1047um　Wサイズ 4～8inch
	esi9350	波長＝1342um　Wサイズ 4～8inch
	esi9820	波長＝1342um　Wサイズ 6～8inch

バックグラインダー/レーザーグルービング

メーカー	機種名	主な仕様
DISCO	DFG8560	Wfサイズ 6～12inch　仕上げ砥石：#2000/6000/8000
DISCO	DFL7161	Wfサイズ 6～12inch　水溶性保護膜標準装備

その他付帯設備

メーカー	機種名	主な仕様
Camtek	Falcon530	自動外観検査装置 8, 12inch対応
Espec	PVHC-231M	クリーンオーブン
Tiatech	HOTEI	PAT判定システム SPAT, DPAT, SBL, SYL判定

広範囲をカバーする
最適なウエハテスト環境

ウエハテスト工程では、お客様からお預かりしたウエハの電気的試験を行います。
最新のテスタ、プローバにより100mmから300mmのウエハをロジックからアナログまで最適な試験環境をご用意しています。
長年の実績と経験に基づいた品質管理体制で安心のサービスをご提案します。